D8 ADVANCE A25 X射线衍射仪利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射线），晶体的晶面反射遵循布拉格定律。通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。

主要功能：

（1）物相分析 是X射线衍射在金属中用得最多的方面，又分为定性分析和定量分析。

（2）精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的绘制。

（3）取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构（如择优取向），分析材料变形织构。

（4）晶粒（嵌镶块）大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。（5）宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小。利用测定点阵平面在不同方向上的间距的改变，可计算出残留应力的大小和方向。

测试电压为40 KV，电流40 mA；步宽一般用0.02度；扫描速度默认为0.1 s/step。测量角度(2θ)范围可根据需要改变，一般为20°～90°。除特殊扫描最大允许设置范围为10°～135°。